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IC卡制作過程中的尺寸標(biāo)準(zhǔn)及布局要求 發(fā)布日期:【2025-07-10】 / 瀏覽次數(shù):【16】次

IC卡(集成電路卡)作為現(xiàn)代生活中廣泛使用的智能卡片,IC卡制作過程中的尺寸標(biāo)準(zhǔn)是確保兼容性和功能性的關(guān)鍵因素。從金融支付到門禁系統(tǒng),IC卡的標(biāo)準(zhǔn)化尺寸不僅影響用戶體驗(yàn),還直接關(guān)系到讀卡設(shè)備的適配性。以下是關(guān)于IC卡尺寸標(biāo)準(zhǔn)的解析,涵蓋國(guó)際規(guī)范、常見類型及實(shí)際應(yīng)用中的注意事項(xiàng)。

一、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ISO/IEC 7810與7816

IC卡的尺寸標(biāo)準(zhǔn)主要由國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)和國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)共同制定。其中,ISO/IEC 7810定義了身份證件和金融交易卡的物理特性,而ISO/IEC 7816則專門針對(duì)IC卡的電氣接口和通信協(xié)議。

1、ID-1尺寸(85.6mm×54mm×0.76mm)

這是常見的IC卡尺寸,廣泛應(yīng)用于銀行卡、社保卡和交通卡等。其長(zhǎng)寬比例接近黃金分割(16:10),厚度通常為0.76mm,允許公差±0.08mm。這種尺寸的兼容性高,可嵌入接觸式芯片(如EMV芯片)或非接觸式天線模塊。

2、ID-000尺寸(25mm×15mm×0.76mm)

主要用于SIM卡,是ID-1卡的縮小版。早期手機(jī)SIM卡常采用此標(biāo)準(zhǔn),通過沖壓工藝從ID-1卡坯上分離。

3、其他變體

部分特殊場(chǎng)景(如酒店門卡或會(huì)員卡)可能采用非標(biāo)尺寸,但需確保讀卡設(shè)備的兼容性。例如,某些厚卡(1.2mm)需定制卡槽。

二、芯片與天線布局的細(xì)節(jié)要求

1、接觸式IC卡

芯片位置需嚴(yán)格遵循ISO/IEC 7816-2標(biāo)準(zhǔn):

- 芯片中心距卡片左邊緣10.25mm,距上邊緣15.25mm。

- 芯片尺寸通常為5mm×5mm,表面鍍金或鈀金以增強(qiáng)導(dǎo)電性。

- 觸點(diǎn)排列為8個(gè)金屬區(qū)域(C1-C8),實(shí)際應(yīng)用中可能僅使用部分觸點(diǎn)(如C1-VCC、C2-RST、C3-CLK、C7-I/O)。

2、非接觸式IC卡

依賴天線線圈進(jìn)行射頻通信(如13.56MHz的NFC技術(shù)),天線通常嵌入卡片邊緣,繞制4-6圈。尺寸需滿足:

- 天線外徑不超過72mm×42mm,避免與卡片邊緣過近導(dǎo)致信號(hào)衰減。

- 線圈線寬0.3mm-0.5mm,間距0.5mm-1mm,以平衡電感量和生產(chǎn)效率。

IC卡制作

三、材料與工藝對(duì)尺寸的影響

1、基材選擇

- PVC(聚氯乙烯):成本低、耐用性強(qiáng),是主流選擇,但高溫下易變形。

- PET(聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯):環(huán)保且抗彎曲,適合長(zhǎng)期使用的卡片。

- ABS(丙烯腈-丁二烯-苯乙烯):用于厚卡或異形卡,但需調(diào)整模具尺寸。

2、層壓工藝

卡片通常由3-5層材料壓制而成,層間需均勻涂膠(厚度0.02mm-0.05mm),避免氣泡或翹曲。例如,帶磁條的卡片需在層壓時(shí)預(yù)留磁條槽(寬度12.7mm±0.2mm)。

3、沖切與模切

卡坯沖切需使用高精度模具,刀口傾斜角控制在15°-20°,確保邊緣光滑無毛刺。公差需控制在±0.1mm以內(nèi),否則可能導(dǎo)致卡片[敏感詞]讀卡器時(shí)卡頓。

四、特殊應(yīng)用場(chǎng)景的尺寸調(diào)整

1、異形卡

如鑰匙扣卡或水滴卡,需在標(biāo)準(zhǔn)尺寸基礎(chǔ)上切割,但需保留核心功能區(qū)(如芯片或天線)。例如,某品牌會(huì)員卡設(shè)計(jì)為圓形(直徑50mm),但仍將天線置于邊緣10mm范圍內(nèi)。

2、雙界面卡

同時(shí)支持接觸式和非接觸式通信的卡片,需兼顧芯片與天線的布局。通常采用“芯片居中+天線環(huán)繞”設(shè)計(jì),天線走線避開芯片區(qū)域(間距≥2mm)。

3、超薄卡

厚度0.5mm以下的卡片(如Apple Card)需采用柔性基材,但需通過加強(qiáng)層(如玻璃纖維)防止斷裂。

五、質(zhì)量檢測(cè)與常見問題

1、尺寸檢測(cè)工具

使用光學(xué)測(cè)量?jī)x或數(shù)顯卡尺,檢測(cè)點(diǎn)包括對(duì)角線長(zhǎng)度(標(biāo)準(zhǔn)值100.6mm±0.3mm)、圓角半徑(3.18mm±0.3mm)等。

2、典型缺陷

- 翹曲變形:因?qū)訅簻囟炔痪鶎?dǎo)致,需控制在130°C-150°C。

- 芯片偏移:超出ISO規(guī)定的±0.5mm范圍,可能引發(fā)接觸不良。

- 天線斷裂:彎折測(cè)試中需承受1,000次以上(ISO/IEC 10373-6標(biāo)準(zhǔn))。

IC卡制作中的尺寸標(biāo)準(zhǔn)是技術(shù)與實(shí)用性的平衡結(jié)果。從國(guó)際規(guī)范到工藝細(xì)節(jié),每一處設(shè)計(jì)都旨在確??ㄆ趶V泛場(chǎng)景中的可靠性和互操作性,隨著新材料和新需求的涌現(xiàn),這一標(biāo)準(zhǔn)體系仍將持續(xù)演進(jìn)。